プロダクト細部
起源の場所: 中国
ブランド名: ZMSH
証明: rohs
モデル番号: SiC4H-P
支払いと送料の条件
価格: by case
支払条件: T/T
供給の能力: 1000pc/month
Polytype: |
4H-P |
密度: |
3.23 G/cm3 |
耐性: |
≤0.1 Ω.cm |
モース硬度: |
≈92 |
表面のオリエンテーション: |
軸外:2.0°−4.0°向かい方 [1120] ± 0.5° |
荒さ: |
ポーランド Ra≤1 nm |
パッケージ: |
複数のホイールカセットまたは単一のホイールコンテナ |
適用する: |
LEDチップ,衛星通信 |
Polytype: |
4H-P |
密度: |
3.23 G/cm3 |
耐性: |
≤0.1 Ω.cm |
モース硬度: |
≈92 |
表面のオリエンテーション: |
軸外:2.0°−4.0°向かい方 [1120] ± 0.5° |
荒さ: |
ポーランド Ra≤1 nm |
パッケージ: |
複数のホイールカセットまたは単一のホイールコンテナ |
適用する: |
LEDチップ,衛星通信 |
シリコンカービッド基板4H-P型は,4H結晶構造のP型 (正型) シリコンカービッド材料を指す.その中,4Hは,ポリ結晶のシリコンカービッド形を表す.六角格子構造があり,シリコンカルビッドの様々な結晶形の中でより一般的です半導体装置の製造に広く使用される.その優れた物理的および化学的特性のために.オフ軸は2.0°,偏差指し 結晶スピンダーに対する基板の切断方向の角度材料の電気的および機械的性質に一定の影響を及ぼします.
2 インチ直径 シリコン炭化物 (SiC) 基板 仕様
等級 グレード |
産業級 生産級 (Pグレード) |
研究級 研究級 (R級) |
試片級 ダミーグレード (D級) |
||
直径 直径 | 50.8mm±0.38mm | ||||
厚度 厚さ | 350 μm±25 μm | ||||
晶片方向 ウェーファー向き | 軸外:2.0°-4.0°向いて [1120] 4H/6H-P に対して ± 0.5° 3C-N に対して | ||||
微管密度 マイクロパイプ密度 | 0cm-2 | ||||
電気抵抗率 ※抵抗性 | 4H/6H-P | ≤0.1 Ω.cm | |||
3C-N | ≤0.8 mΩ•cm | ||||
主定位边方向 主要フラット方向 | 4H/6H-P | {10-10} ±5.0° | |||
3C-N | {1-10} ±5.0° | ||||
主定位边長度 プライマリ フラット 長さ | 15.9 mm ±1.7 mm | ||||
次定位边長度 二次的な平面長さ | 8.0 mm ±1.7 mm | ||||
次定位边方向 中級平面方向 | シリコンが上向き: プライムフラットから90°CW ±5.0° | ||||
边缘除除 エッジ除外 | 3mm | 3mm | |||
総厚度変化/ 曲度/ 曲度 TTV/Bow/Warp | ≤2.5 μm/≤5 μm/≤15 μm/≤30 μm | ||||
表面粗度※荒さ | ポーランド Ra≤1 nm | ||||
CMP Ra≤0.2 nm | |||||
边缘裂纹 (強光灯観察) 高強度の光によって縁の裂け目 | ない | 1 許容, ≤ 1 mm | |||
六方空洞 (強光灯观测) ※ 高強度光によるヘックスプレート | 累積面積≤1 % | 総面積≤3 % | |||
多型 ((強光灯観察) ※ 高強度光による多型エリア | ない | 累積面積≤2 % | 累積面積≤5% | ||
シ 面划痕 (強光灯観察) # シリコン表面は高強度の光で 傷つく |
1×ウエファーに3つの傷が 直径 累積長さ |
1×ウエファーに5の擦り 直径 累積長さ |
8 傷 1 × ワッフル直径の累積長 | ||
崩边 (強光灯观测) エッジチップ 高強度 ライトライト | ない | 容量 ≤0.5mm | 容量5個,それぞれ ≤1mm | ||
顔汚染物 (強光灯観察) 高密度によるシリコン表面汚染 |
ない | ||||
包装 パッケージ | 複数のホイールカセットまたは単一のホイールコンテナ |
注記:
※欠陥制限は,縁の除外領域を除き,ウエフルの表面全体に適用されます.
わかった
1Q:シリコンカービッド基板の性能に 2.0°の軸外の影響は?
A:軸外切断は,SIC基板の電気的および機械的な特性を改善し,キャリアの移動性を増加させ,表面の地形を最適化することができます.製造や後続機器の性能向上を促すもの.
2Q:正しいシリコンカービッド基板をどのように選ぶか?
A:ZMSHは,特定のアプリケーションシナリオに基づいて顧客の要求を満たす製品を選択し,基板の純度,欠陥密度,結晶の整合性およびドーピング濃度.
タグ: #シック・ウェーバー, #シリコン・カービッド基板, #4H-Pタイプ, #オフ軸: 2.0°-4.0°向かい#Sic 4H-Pタイプ