logo
よい価格  オンライン

商品の詳細

Created with Pixso. 家 Created with Pixso. プロダクト Created with Pixso.
SiCの基質
Created with Pixso. Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

ブランド名: ZMSH
モデル番号: SiCウェハHPSI
MOQ: 25
価格: Fluctuates with market
配達時間: 2~4週間
支払条件: T/T
詳細情報
起源の場所:
中国、上海
ポリタイプ:
主流の4H-SiC
直径:
4/6/8インチが利用可能
厚さ:
標準サイズは350μm、500μm、650μm
抵抗率:
≥1×10¹⁰ Ω・cm (HPSI コア電気仕様)
表面処理:
片面・両面CMP鏡面研磨
Micropipe密度:
量産グレード ≤1 ea/cm²
製品の説明

HPSI SiCウェーハ情報

HPSI(高純度半絶縁性)炭化ケイ素ウェーハは、高周波GaN RFデバイスおよび先進的な第三世代半導体のための重要な基盤基板です。5G通信、ミリ波レーダー、航空宇宙エレクトロニクス市場の急速な拡大に伴い、世界のSiC基板市場は2030年までに20億米ドルを超えると予測されており、次世代ワイヤレス通信および 高電力電子システムにおいて、かけがえのない戦略的役割を果たしています。Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

 

上流:高純度炭化ケイ素粉末(6Nグレード以上)、物理気相成長(PVT)結晶成長炉、高純度グラファイト熱場部品。ハイエンド結晶成長装置および超高純度原材料は、産業チェーンにおいて依然として部分的な輸入依存に直面しています。中流:SiC単結晶成長 → インゴット成形 → マルチワイヤスライス → ラッピング → 化学機械研磨(CMP) → エピタキシャル準備完了表面処理。このセグメントは、結晶収率と欠陥制御をコア競争指標とする、非常に高い技術的障壁を特徴としています。下流:GaN RFパワーデバイス(HPSI SiC消費量の最大シェアを占める)、5G基地局パワーアンプ、ミリ波レーダーチップ、航空宇宙電子部品、高周波マイクロ波デバイス、高電圧パワーデバイスプロトタイプ。下流の需要は、通信技術のアップグレード、新エネルギーおよび防衛産業によって牽引され、継続的に成長しています。

 

4H HPSI SiCウェーハは、<0001>結晶配向を持つ高純度半絶縁性単結晶炭化ケイ素基板であり、主に物理気相成長(PVT)結晶成長法によって製造されます。半絶縁性は、超高純度制御とバナジウムドーピング技術によって達成され、非常に高い抵抗率を実現します。エピタキシャル準備完了表面は、精密CMP研磨を経て原子レベルの平滑性を実現し、厳格なMOCVD GaNエピタキシャル要件を満たします。

主な特徴

高純度半絶縁性SiC材料

当社のHPSI SiCウェーハは、高周波RFおよびハイエンド半導体製造環境向けに特別に開発された6Nグレードの高純度単結晶炭化ケイ素(4H-SiC)から製造されています。この材料は、優れた熱伝導率、超高電気抵抗率、優れた耐薬品性、および優れた機械的強度を備えており、高温エピタキシャル、高電力動作、および過酷なプラズマ処理条件下で安定した電気的および物理的性能を維持します。

多様なデバイスに対応する複数のポリタイプと配向オプション

SiC基板は、異なる半導体デバイスの要件に合わせて、主流のポリタイプと結晶配向で利用可能です。4H-SiCは、電子移動度と材料安定性のバランスが取れたRFおよびパワーデバイスの主要な選択肢です。6H-SiCオプションは、特殊な光電子および高温デバイスのシナリオに対応します。カスタムオフアングル仕様(例:4°オフアングル)は、エピタキシャル層の品質とデバイス収率を最適化するために利用可能です。

超精密CMP研磨と平坦性性能

異なるプロセスシナリオに合わせて、SSP(片面研磨)およびDSP(両面研磨)グレードで利用可能です。エピタキシャル準備完了CMP研磨面は、Ra < 0.1 nmの超低表面粗さを実現し、TTV、BOW、WARP値を厳密に制御しています。原子レベルで滑らかで欠陥のない表面は、MOCVD GaNエピタキシャル成長基準を完全に満たし、均一なエピタキシャル層の堆積とデバイスRF性能の高い一貫性を保証します。Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

優れた電気的・熱的特性

HPSI SiC基板は、超高抵抗率(≥ 1×10¹⁰ Ω・cm)と超低誘電損失を提供し、高周波および高電力RFデバイスの信号クロストークとリークを効果的に排除します。サファイアの3〜4倍の熱伝導率により、優れた放熱能力を発揮し、高負荷動作下でのデバイス電力密度と長期信頼性を大幅に向上させます。

カスタム精密基板製造

基板仕様は、お客様の技術要件に応じて完全にカスタマイズ可能です。これには以下が含まれます:

  • ウェーハ径:2 / 4 / 6 / 8インチ
  • 標準およびカスタム厚さ
  • 結晶ポリタイプと精密オフアングル
  • SSP / DSP研磨モード
  • 表面粗さと平坦性許容値
  • エッジ面取りとエッジ仕上げ
  • プライマリフラット / ノッチ配置設計
  • 清浄度グレードと精密洗浄プロセス

機能加工とカスタム付加価値サービス

標準的なベアSiCウェーハに加えて、多様な顧客アプリケーションをサポートするために、フルプロセスでカスタマイズされた機能加工を提供しています。利用可能なサービスは次のとおりです:

  • エピタキシャル層成長(SiC上のGaN / AlGaN)
  • フル / ローカライズドメタライゼーション(Ti / Ni / Au / Crコーティング)
  • 超薄型ウェーハ薄化と応力緩和処理
  • 高精度ダイシング、ドリル加工、特殊形状加工
  • カスタム表面仕上げ(研磨 / ラッピング / エッチング)
  • 厳格な品質検査と完全なCOA認証

カスタム交換およびOEMグレード基板ソリューション

お客様の図面、サンプルベンチマーク、装置プロセスパラメータ、既存のコンポーネント仕様、およびリバースエンジニアリングの要求に基づいて、カスタムSiCウェーハの開発と製造をサポートします。すべての製品はRoHSおよびREACH規格に準拠しており、半導体プロセスアップグレード、装置マッチング、およびローカル交換プロジェクトに安定した高収率の基板ソリューションを提供します。

典型的な用途

HPSI SiCウェーハは、RF通信および先進半導体産業で広く採用されているコア基盤基板であり、以下のデバイスおよび製造プロセスに適用可能です:

  • GaNベースRFパワーアンプおよびHEMTデバイス製造
  • 5G / 6G基地局RFフロントエンドチップ
  • ミリ波レーダーおよび車載レーダーチップ
  • 衛星通信および航空宇宙電子部品
  • マイクロ波およびミリ波モノリシック集積回路(MMIC)
  • 高周波パワーエレクトロニクスデバイスの研究開発およびプロトタイピング
  • 防衛エレクトロニクスおよびフェーズドアレイレーダーシステム
  • 高温耐性半導体デバイスパッケージング
  • 半導体真空装置および高温絶縁部品
  • 高電力RFデバイスパッケージングおよび熱管理基板

HPSI SiC基板は、主流RFおよびハイエンド半導体シナリオ向けに商業的に量産されており、安定したバッチ一貫性、低欠陥率、および優れたプロセス互換性を特徴としています。

製品仕様

 

項目 仕様
製品 HPSI炭化ケイ素ウェーハ / SiC基板
材料 高純度半絶縁性4H-SiC単結晶
成長方法 物理気相成長(PVT)
結晶構造 六方晶ウルツ鉱構造
直径 2インチ / 4インチ / 6インチ / 8インチまたはカスタム
厚さ カスタム(例:350μm~650μm)
配向 (0001) C面、4°オフアングル / カスタム
表面仕上げ SSP(片面研磨) / DSP(両面研磨) / ラップ
表面品質 MIL-PRF-13830B準拠のスクラッチ・ディグ(例:20/10、10/5)
抵抗率 ≥ 1×10¹⁰ Ω・cm(半絶縁性)
マイクロパイプ密度(MPD) ≤ 1 個/cm²(生産グレード) / カスタム
TTV(総厚さ変動) ≤ 3 μm(または顧客要求による)
弓なり/反り ≤ 10 μm(または顧客要求による)
粗さ(Ra) 研磨済み:≤ 0.1 nm / ラップ:≤ 0.5 μm
エッジタイプ プライマリフラット / ノッチ付き(SEMI規格準拠)
エッジプロファイル 必要に応じて面取り / 丸加工
ドーパント バナジウム添加 / 真性半絶縁性
純度 ≥ 99.9999%(6Nグレード)
コーティング コーティングなし / エピタキシャル層 / 金属コーティング利用可能
用途 RF通信 / GaNエピタキシャル / マイクロ波 / 航空宇宙

半導体およびRFアプリケーションにHPSI SiCウェーハを選択する理由

HPSI炭化ケイ素ウェーハは、GaN RFエピタキシャル、高周波デバイス製造、およびマイクロ波電子システムに広く応用されているコア基盤基板です。GaN、AlGaN、その他のエピタキシャル層成長のキャリアとして機能し、高温、高電力密度、強力なプラズマ侵食、高周波電磁場を特徴とする極端な製造環境で動作します。

従来のサファイア、シリコン、一般的なセラミック基板材料と比較して、高純度半絶縁性SiC基板は優れた総合的な物理的および電気的特性を統合しており、ハイエンドRFおよび高電力半導体プロセスに不可欠です。主な利点は次のとおりです:Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

  • 超高熱伝導率熱伝導率は最大490 W/m・Kで、サファイアの3〜4倍、シリコンの10倍であり、高電力デバイスによって発生する熱を効率的に放散し、デバイスの電力密度と耐用年数を大幅に向上させます。
  • 極めて高い高温安定性融点が2700℃まであり、長期の高温エピタキシャルおよび高電力動作下で安定した結晶構造と寸法精度を維持し、基板の変形やデバイス性能の低下を効果的に回避します。
  • 超高半絶縁性能抵抗率が1×10¹⁰ Ω・cm以上で、超低誘電損失を備えており、高周波RFデバイスに信頼性の高い電気的絶縁を提供し、信号クロストークと挿入損失を効果的に低減します。
  • 優れた耐薬品性半導体製造で使用される様々な酸性、アルカリ性、反応性プロセスガスによる腐食に耐性があり、化学反応や表面劣化がなく、超クリーンなプロセス条件を保証します。
  • 優れたプラズマおよび放射線耐性薄膜堆積およびエッチングプロセスにおける長期のプラズマ照射および高エネルギー放射線に耐え、低い表面損傷率と安定した性能を発揮します。
  • 高い機械的強度と硬度モース硬度9.5で、ダイヤモンドに次ぐ硬度を持ち、優れた耐摩耗性と構造安定性を提供し、精密加工および薄膜成長中の機械的損傷や反りを防ぎます。
  • 長期的なプロセス耐久性繰り返し行われる厳格な半導体生産プロセスにおいて、一貫した表面平坦性と結晶品質を維持し、基板交換頻度と生産コストを大幅に削減します。

上記理由により、HPSI SiC基板は、GaN RFデバイス、ミリ波通信チップ、航空宇宙エレクトロニクス、その他のコア半導体コンポーネントの主要な材料となっています。

カスタムSiCウェーハ製造

RF通信および先進半導体装置向けの標準化されたHPSI SiCウェーハのカスタム製造を専門としており、産業生産およびラボR&D向けの高精度テーラーメイドソリューションに注力しています。固定された標準仕様の限界を打破し、お客様の実際のプロセスパラメータ、装置マッチング要件、およびデバイス設計基準に完全に準拠したウェーハをカスタマイズします。

包括的なカスタマイズオプションは、フルプロセスウェーハパラメータとサポート構造をカバーしています:

SiCウェーハコアパラメータ

  • ウェーハ径(2/4/6/8インチおよび特殊カスタムサイズ)
  • ウェーハ厚さ
  • 結晶ポリタイプ(4H-SiC、6H-SiC)およびオフアングル仕様
  • エッジ形状と面取り仕様
  • フラット / ノッチ配置設計
  • 表面粗さと平坦性
  • 両面 / 片面研磨要件
  • 超クリーン表面処理と応力緩和処理

マッチング構造コンポーネント

  • 基板キャリア治具サイズカスタマイズ
  • 位置決め穴と溝加工
  • 金属マッチングベースとスリーブ構造
  • 取り付けおよび固定インターフェース仕様
  • 基板と補助部品の統合アセンブリ

お客様の直接取り付けおよび使用ニーズを満たすために、SiCウェーハとマッチングする金属/セラミック部品と組み立てられた完成品の統合コンポーネントを提供できます。

交換およびOEMグレード基板ソリューションSic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

製造中止のSiCウェーハ、入手困難なオリジナル部品、特殊半導体装置向けの非標準カスタム基板に対して、専門的なリバースエンジニアリングおよび交換製造サービスを提供します。お客様は、評価および見積もりのために以下の情報を提供できます:

  • オリジナル機器部品番号
  • 詳細な技術図面とパラメータ仕様
  • 製品の写真と物理サンプル(新品/中古)
  • 主要な寸法および結晶パラメータデータ
  • サポート機器モデルとバッチ情報
  • 特定のアプリケーションシナリオとプロセス環境パラメータ

当社の専門エンジニアリングチームは、正式な見積もり前に、ウェーハ構造、結晶性能、加工難易度、製造可能性について包括的な評価を行います。すべてのカスタム交換ウェーハは、プロセス互換性のために最適化されます。最終的なマッチング性能は、お客様の実際の機器構成と生産プロセス基準に従って確認され、使用効果のゼロ差を保証します。

品質管理

すべてのHPSI SiCウェーハに対してフルプロセス精密品質検査を実施しており、お客様のプロジェクト要件および業界標準に従って、ターゲットを絞った検査項目と完全なテストレポートを提供できます。コア検査内容は次のとおりです:

  • 全次元精密検査(直径、厚さ、公差校正)
  • 結晶配向およびポリタイプ精度検出
  • 表面平坦性、反り、粗さ試験
  • マイクロパイプ密度および欠陥密度検査
  • 抵抗率および電気性能試験
  • 目視欠陥検査(傷、ピット、ひび割れ、内包物)
  • 清浄度および表面応力検出
  • 専門的な衝突防止および防塵パッケージング検査

完全なテストデータを含む正式な検査レポートは、お客様の入荷材料検証および生産品質トレーサビリティをサポートするために提供できます。

見積もりにはどのような情報が必要ですか?

正確な見積もりと納期短縮を確実にするために、お問い合わせの際は以下の詳細情報を提供してください:

  • 完全な製品技術図面とパラメータシート
  • ウェーハ径、厚さ、および公差要件
  • 結晶ポリタイプ、配向、およびオフアングル仕様
  • 表面仕上げ、研磨グレード、および清浄度要件
  • マッチング補助コンポーネントのパラメータ(該当する場合)
  • 装置ブランド、モデル、およびサポートプロセス条件
  • オリジナルOEM部品番号(該当する場合)
  • 必要数量とバッチ需要
  • 特定のアプリケーションプロセスおよび極端な環境要件

完全な技術図面が利用できない場合は、パラメータテストとスキーム評価のために、ウェーハの鮮明な高解像度写真と物理サンプルを提供してください。

よくある質問

HPSI SiCウェーハは主に何に使用されますか?

HPSI(高純度半絶縁性)SiCウェーハは、高周波RFおよび先進半導体デバイス製造のためのコアキャリア基板であり、主にGaN RFパワーアンプ、5G基地局チップ、ミリ波レーダー、航空宇宙エレクトロニクス、マイクロ波MMICなどの分野で使用され、高温エピタキシャル、薄膜堆積、精密エッチングプロセスに適しています。

 

カスタム統合ウェーハアセンブリ部品を提供できますか?

はい。単一のSiCウェーハ基板に加えて、図面およびサンプル要件に従って、様々なマッチング治具、金属ベース、位置決めコンポーネント、および完成品の統合アセンブリをカスタマイズし、ワンストップサポート供給を実現できます。

 

古い特殊装置の交換用ウェーハを製造できますか?

はい。図面ベースの製造およびサンプルリバースエンジニアリングを含む、フルサービスのカスタム製造をサポートしています。お客様は、オリジナル部品番号、技術パラメータ、物理サンプル、および装置情報を提供でき、当社のチームは性能マッチングと代替製造を完了します。

 

SiCウェーハのすべてのコアパラメータをカスタマイズできますか?

はい。ウェーハサイズ、厚さ、結晶ポリタイプ、エッジ加工、表面粗さ、平坦性、研磨グレードを含むすべての主要パラメータは、お客様のプロセス要件に従って完全にカスタマイズでき、パーソナライズされたR&Dおよび生産ニーズを満たします。

 

小ロットおよびプロトタイプ注文をサポートしていますか?

はい。プロトタイプ開発、ラボ小ロットテスト、装置メンテナンス交換、および大量生産バッチ注文を完全にサポートしています。カスタムパラメータと加工難易度に応じて、生産スキームと見積もりを評価します。

関連製品

Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

LED、半導体、レーザー、光学機器に使用される高純度サファイア

 

Sic Wafer HPSI:高純度半絶縁性 高熱伝導率 MPD制御可能

6インチN型6H炭化ケイ素外延結晶、厚さ350ミクロン、MEMSおよび紫外線センサー用